دستگاه حکاکی لیزری | قیمت دستگاه حکاکی | دستگاه برش لیزری

نقد و بررسی

در اپتیک غیره خطی، اندازه گیری به روش جاروب - z یا z-scan برای اندازه گیری ضریب شکست غیره خطی n2 و ضریب شکست جذب غیره خطی، به کار برده می شود. از دو روش آشکارساز بسته برای اندازه گیری ضریب شکست غیره خطی و آشکار ساز باز برای اندازه گیری ضریب جذب غیره خطی استفاده می شود.

ضریب جذب غیره خطی می تواند بر ضریب جذب شکست غیره خطی تاثیر گذارد بنابراین روش آشکار ساز بسته و آشکارساز باز به طور همزمان در این مجموعه اجرا شده است. این مجموعه برای شاخص دهی مواد اپتیکیشفاف نسبتا نازک (کمتر از۵ میلی متر ضخامت) طراحی شده است.

نحوه عملکرد:

مجموعه جارب z مطابق شکل به اینصورت عمل می کند که، یک باریکه لیزر پرشدت از میان یک عدسی با فاصله کانونی بزرگ عبور کرده و کانونی می شود . نمونه مورد آزمون نازک، در میان کمر باریکه کانونی شده به وسیله یک جاروبگر موتوردار خطی، حرکت می کند.

باریکه پس از کانون با استفاده از یک باریکه شکن به دو قسمت تقسیم می شود. یک قسمت به آشکارساز ۱ که تام باریکه را در بر می گیرد فرستاده می شود . باقیمانده باریکه از میان یک دیافراگم عبور کرده و قسمت مرکزی آن به آشکار ساز ۲ می رسد. خروجی دو آشکارساز به ازای جابجایی های نمونه آزمون از طریق یک واسط الکترونیکی به یک رایانه منتقل می شود. با نرم افزار این مجمموعه جابجاگر کنترل شده و نمودار های شدت آشکارساز های دهانه باز و بسته قابل ترسیم است.

مشخصات فنی

فیلم محصول

پرسش و پاسخ

ارسال پرسش جدید

نام :
ایمیل :
متن :
کد امنیتی :